Ämter – Gerichte
Deutsches Patent- und Markenamt
Europäisches Patentamt
Einheitliches Patentgericht
Amt der Europäischen Union für geistiges Eigentum (EUIPO)
Weltorganisation für geistiges Eigentum (WIPO)
Bundespatentgericht
Bundesgerichtshof (BGH)
Gerichtshof der Europäischen Union

Recherchen – Patente
DEPATISnet (DPMA)
Espacenet (EPA)
PATENTSCOPE (WIPO)
DPMAregister
Europäisches Patentregister
J-PlatPat (Japan)
KIPRIS (Südkorea)
USPTO Patent Public Search (U.S.A.)

Informationen
Patente
Gebrauchsmuster
Marken
Designs
Deutsche Gesetze
Europäisches Patentübereinkommen (EPÜ)
Mitgliedstaaten der Europäischen Patentorganisation
PCT-Vertragsstaaten
Am Einheitspatentsystem teilnehmende Staaten
Mitgliedstaaten des Madrider Systems
Mitgliedstaaten des Haager Systems

Recherchen – Marken
DPMAregister
TMview (EUIPO)
TMclass (EUIPO)
eMadrid – Find and Monitor (WIPO)
USPTO Trademark Search (U.S.A.)
CNIPA Trademark Search (China)

Recherchen – Designs
DPMAregister
eSearch plus (EUIPO)
DesignView (EUIPO)
Global Design Database (WIPO)